采用X射线小角散射(SAXS)技术,对硅粉水泥石中微孔孔界面分形结构进行实验研究.结果表明,硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界,而是有一个2nm左右的电子密度缓变的过渡层;微孔界面具有分形结构特征,分形维数与3接近,说明其孔界面是非常粗糙的;水胶比、硅粉含量对孔界面分形维数具有显著的影响,笔者根据实验结果,从微观的角度进行了探讨性的解释.
朱卫华,印友法,蒋林华,等.硅粉水泥石中微孔界面分形结构实验研究[J].河海大学学报(自然科学版),2004,(1):71-75.(.[J]. Journal of Hohai University (Natural Sciences),2004,(1):71-75.(in Chinese))